ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Разрешающая способность электронных микроскопов позволяет изучать тонкую структуру волокон на уровне атома.
Теоретические основы электронной микроскопии были заложены еще в 20-е годы нашего столетия Луи-де-Бройлем. Им было показано, что пучку заряженных частиц, движущихся в ускоряющем поле, соответствует волновой процесс с длиной волны, нм
![](http://www.ellitex.ru/textil/img2/f1-5.jpg)
При воздействии поля с потенциалом u, В, пучок электронов ускоряется, тогда энергия электронов
![](http://www.ellitex.ru/textil/img2/f1-6.jpg)
Подставив постоянные h, т, е в формулу (1.7), получим
![](http://www.ellitex.ru/textil/img2/f1-8.jpg)
Уравнение (1.8) описывает волновой процесс в ускоренном пучке электронов.